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目 录1

第十一章 中子探测技术1

第一节中子探测的基本原理1

一、核反应法2

二、核反冲法3

三、核裂变法4

四、活化法5

第二节常用的中子探测器6

一、气体探测器6

二、闪烁探测器11

三、半导体探测器14

四、其他中子探测器15

第三节中子能谱的测量16

一、氢反冲法17

二、6Li和3He谱仪26

三、飞行时间法26

四、晶体衍射法35

第四节中子通量及中子源强度的测量37

一、概述37

二、氢反冲法测量快中子通量40

三、中子活化法测量中子通量43

四、锰浴法测量中子源强度47

五、用伴随粒子法测量快中子通量49

第十二章低水平放射性测量52

第一节测量系统的优质因子及探测极限52

一、探测装置的优质因子53

二、与探测灵敏度有关的几个概念54

第二节本底来源及降低本底的措施58

一、本底的来源58

二、降低本底的措施60

一、低水平α计数65

第三节几种低水平放射性测量装置65

二、低水平β计数66

三、低水平γ放射性的测量70

第十三章核反应截面测量74

第一节带电粒子反应截面测量74

一、物理原理74

二、微分截面和积分截面测量77

三、共振反应截面测量81

第二节靶室和制靶技术85

一、靶室85

二、制靶技术88

一、中子全截面测量93

第三节快中子反应截面测量93

二、中子散射截面测量99

三、中子俘获截面测量105

四、中子裂变截面测量107

第十四章粒子鉴别技术110

第一节脉冲形状甄别方法110

一、闪烁探测器中的脉冲形状甄别111

二、半导体探测器中的脉冲形状甄别119

三、正比计数器中的脉冲形状甄别126

一、工作原理127

第二节飞行时间方法127

二、装置描述129

三、定时探测器132

第三节探测器望远镜方法134

一、工作原理135

二、探测器138

三、鉴别能力140

四、多重探测器望远镜系统143

第四节磁分析方法与组合粒子鉴别系统145

一、磁分析方法145

二、组合粒子鉴别系统145

第二节长核寿命的测量方法151

第一节引言151

第十五章核寿命的测量151

一、直接测量法152

二、比放射性法154

三、测定子核含量法155

第三节短核寿命的测量方法156

一、直接测量的方法157

二、延迟符合和微波调制方法163

三、核反冲法168

四、确定能级宽度的方法177

五、非弹性散射方法185

六、阻塞效应187

第十六章核辐射分析技术的应用192

第一节中子活化分析192

一、中子活化分析原理192

二、中子活化分析中的干扰反应194

三、中子活化分析设备和辐照条件选择195

四、测量和数据分析195

五、中子活化分析应用实例197

第二节带电粒子核反应分析201

一、带电粒子活化分析法202

二、瞬发辐射分析法205

第三节X射线分析技术211

一、基本原理212

二、X射线分析的实验装置和方法217

三、样品分析221

第四节离子背散射技术225

一、基本原理225

二、实验装置和条件选择230

三、背散射技术的应用实例231

第五节穆斯堡尔效应及其应用234

一、原子核发射和吸收γ射线的过程234

二、穆斯堡尔效应238

三、穆斯堡尔谱和实验方法240

四、穆斯堡尔谱仪242

五、穆斯堡尔效应的应用244

第十七章常用辐射源248

第一节概述248

一、辐射源的选用248

二、放射源的制备248

三、放射源的包装和安全检验249

四、放射源产品等级250

第二节 α和重带电粒子源250

一、同位素α放射源250

二、加速器252

一、概述254

第三节β辐射源254

二、β-放射源255

三、β+放射源256

四、内转换电子源256

五、电子加速器257

第四节 γ和X射线源258

一、概述258

二、低能光子源259

三、常用γ参考源261

四、高能γ射线源262

五、穆斯堡尔源263

一、同位素中子源264

六、γ辐照源264

第五节常用中子源264

二、加速器中子源268

三、反应堆中子源270

第十八章测量误差和数据处理274

第一节等精度观测下偶然误差的估算274

一、观测值和偶然误差的正态分布274

二、算术平均值及其分布275

三、方差的估值276

四、置信度和置信区问279

五、偶然误差和测量结果的表示方法281

六、估算均方根差的最大误差法和极差法283

第二节不等精度观测误差的处理286

一、权的概念和加权算术平均值286

二、加权平均值的均方根差288

三、单位权方差的估算290

四、分组数据的处理292

第三节系统误差297

一、系统误差对测量结果的影响297

二、系统误差的表示和确定298

三、系统误差的发现和检验299

四、系统误差的限制和消除304

第四节多维数据组和间接测量的误差处理306

一、二维随机变量306

二、间接测量中的误差传递308

三、误差分配和误差分析312

第五节用最小二乘法作参数估计314

一、最小二乘法原理315

二、线性参数的最小二乘估计316

三、最小二乘估计的精度计算320

四、不等精度观测下线性参数的最小二乘估计324

五、例题326

六、非线性参数的最小二乘估计328

第六节曲线拟合法329

一、用最小二乘法按多项式作曲线拟合329

二、拟合曲线的置信区间331

三、多项式拟合阶数的选取333

四、正交多项式族在拟合观测数据时的应用335

附录1 几种常用分布的基本性质340

附录2估值的评选标准343

附录3标准偏差s的均方根差343

附录4 最小二乘残差平方和R的统计性质344

附录2 正态分布概率积分表347

附录1 常用物理常数数值表347

附 录347

附录3 x2分布概率积分表348

附录4 t分布概率积分表349

附录5 F分布概率积分表350

附录6 放射性衰变计算表352

附录7 常用核素表353

附录8 按γ能量排列的常用参考源表356

附录9 常用衰变纲图（简化）358

附录10平面源所张平均立体角的计算359

附录11各元素的KX射线能量、相对强度和荧光产额366

附录12几种探测介质和窗材料对低能光子的质量吸收系数370