《可靠性与环境试验参考资料 12 日本第10届可靠性与维护性会议论文集选编》

元件可靠性1

关于磁带寿命的若干问题铃木喜久、贝塜隆则 等1

高辉度数字显示管的寿命试验矢杉井久雄 等4

印刷板（金属化孔）的可靠性田代通也6

电视机接插件的可靠性评价方法松尾干也 等10

功率晶体管的可靠性研究岛冈 诚 等13

功率晶体管焊接层的热强度分析保川彰夫 等17

发光二极管的老化特性蟹江 寿 等22

薄氧化膜的老化击穿失效沢田功吉付26

薄膜载体器件的可靠性研究时早征男 等31

可靠性活动与管理36

三洋电机公司可靠性数据库系统的开发及运用长谷川肇等36

用户的软件可靠性管理三觜 武42

在外协作厂家生产的电子设备的可靠性管理辰段政照、筱原广繁46

工厂电子测试设备可靠性与维护性的改进桥本利夫 等50

与早期质量有关的用户动向的掌握及利用吉田 隆裕 等57

组合环境试验方法弓削 恒等60

可靠性设计64

MIL-HDBK-217C之主要修改点保田襄似64

树脂封装功率集成电路PN结-封壳热阻与封壳-大气热阻及总热阻间的关系须藤 保等69

用微型计算机进行威布尔型失效分析益田昭彦 月原保久73

彩电可靠性数据的收集与分析上田重博 米田昌司78

不完整数据分析方法的研究野中保雄82

可靠性试验和故障分析85

塑料封装半导体器件的耐湿可靠性戒能俊邦 等85

如何定量掌握用户对可靠性试验的要求三浦 勇等89

电子计算机中集成电路的失效分析石山一雄等91

16K EPROM的可靠性比较试验岩崎二三男等94

威布尔分布元器件的最佳替换方式掘笼 教夫101