《可靠性与环境试验参考资料 IEEE可靠性物理年会论文集选编 2》求取 ⇩

作者	编者
出版	可靠性与环境试验编辑部
参考页数	76 ✅ 真实服务非骗流量 ❤️
出版时间	1984.03（求助前请核对）目录预览
ISBN号	无 — 违规投诉 / 求助条款
PDF编号	816077238（学习资料勿作它用）
求助格式	扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册）

可靠性与环境试验参考资料 IEEE可靠性物理年会论文集选编 2 1984.03 PDF电子版封面

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加速试验技术1

一种预测电迁移失效敏感性的可靠性工具——欧姆非线性脉冲技术的评价1

步进应力在评价与时间有关的击穿问题上的应用7

高加速温、湿度应力试验技术（HAST）13

失效机理及封装可靠性17

陶瓷电容器在低压直流应力下的漏电失效机理17

氮化硅密封对MOS器件稳定性的影响25

可靠性检测技术33

一种利用集成电路芯片来测量电路封装体内相对湿度的简单方法33

定量测量塑料封装引起的集成电路内应力的新方法43

一种利用液晶检测半导体器件热点的方法51

用容限电压测量来检测和判定数字微电路的缺陷54

MOS器件静电放电灵敏度的检测方法65

其他69

芯片粘接界面的物理性质69

1984.03《可靠性与环境试验参考资料 IEEE可靠性物理年会论文集选编 2》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由 1984.03 可靠性与环境试验编辑部出版的版本）。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。

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