《可靠性物理讲》
| 作者 | 华东师范大学物理系半导体教研室编 编者 |
|---|---|
| 出版 | 上海电子设备工业公司中心试验站 |
| 参考页数 | 162 |
| 出版时间 | 1980.11（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 无 — 求助条款 |
| PDF编号 | 84347828（仅供预览，未存储实际文件） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
第一章绪论1
半导体器件可靠性研究工作发展概况1
整机可靠性研究一例8
第二章晶体管基础知识14
晶体三极管14
MOS场效应晶体管35
第三章提高半导体器件可靠性的几种措施44
MOS结构C—V法在工艺控制中的应用44
利用栅控管及四极管研究表面对双极型晶体管性能的影响66
其它常用测试结构81
表面纯化125
介质膜层部段陷的鉴定149
1980.11《可靠性物理讲》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由华东师范大学物理系半导体教研室编 1980.11 上海电子设备工业公司中心试验站 出版的版本） 。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。
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