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目录1

上篇1

第一章 概论1

一、集成电路测试的意义与作用1

二、集成电路的分类2

三、数字集成电路设计和生产中的测试2

四、集成电路测试的基本原理5

五、老化14

六、测试仪选购14

七、市场17

第二章 数字SSI/MSI测试系统20

一、SSI/MSI测试20

第五章 半导体存储器测试系统24

二、SSI/MSI测试系统构成与原理32

三、测试仪的发展现状35

四、数字SSI/MSI测试仪的市场和产品37

五、选购指南40

国内外SSI/MSI测试仪性能简表43

BJ4130型中大规模数字集成电路测试系统44

GH3182型模拟集成电路测试仪45

GH3181型运算放大器测试仪45

GH4821型半导体管特性图示仪46

G112911M1型数字集成电路测试单元46

GH3123A型集成电路自动测试仪47

GH31l1G型集成电路测试仪47

YB3111/YB3112型数字集成电路测试仪48

HIP83000/F660型数字测试系统48

一、数字集成电路测试系统原理49

第三章 数字LSI/VLSI测试系统．49

二、数字集成电路测试系统61

三、VLSI测试系统选购准则87

四、市场和产品91

VLSI测试系统简表100

S1650型双管脚多功能VLSI测试系统104

ITS9000型系列测试系统与ASAP测试软件开发工具106

S15型集成电路测试系统107

IDS3000集成电路诊断验证系统108

第四章 ASIC验证系统109

一、ASIC的验证和测试109

二、ASIC验证系统市场和产品112

国外ASIC验证系统简表120

HP82000系列集成电路测试系统122

IMS测试站123

一、RAM的基本组成及结构124

二、RAM的测试原理126

三、存储器测试系统139

四、市场和产品151

国外存储器测试系统产品简表160

第六章 模拟与混合信号集成电路测试系统164

一、模拟与混合信号集成电路测试原理164

二、模拟与混合信号集成电路测试系统的原理和结构187

三、模拟与混合信号集成电路测试系统的技术发展现状和趋势193

四、市场和产品197

国外模拟与混合信号集成电路测试系统简表203

HP9480型模拟集成电路测试系统206

HP9490系列混合信号集成电路测试系统207

第七章 分选机208

一、概述208

二、分选机的结构与一般原理208

三、分选机的技术发展观状和趋势210

四、部分产品简介212

五、分选机的选购方法214

分选机部分产品规格表215

第八章 集成电路老化设备218

一、老化筛选的原理和老化设备的基本结构218

二、老化设备的技术发展现状和发展趋势227

三、老化设备的市场和产品230

四、老化设备的选购方法232

国外集成电路老化设备简表233

厂商（公司）介绍235

北京无线电仪器厂235

下篇235

国营光华无线电仪器厂236

爱德万测试股份有限公司237

爱谷公司238

IMS公司239

LTX公司240

MCI公司241

MiNT系统公司242

席伦伯格公司243

国外各类测试设备的生产厂商244

国外各类测试设备生产厂商地址247