《电子计量测试应用手册 集成电路计量测试分册》求取 ⇩

目 录1

第一章 国际电工委员会（IEC）及我国半导体集成电路的有1

关标准和规范简介1

一概况1

二我国半导体集成电路的测试方法标准2

（一）半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理5

（二）半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理34

（三）半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理68

（四）半导体集成电路稳压器测试方法的基本原理98

（五）半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理110

（六）半导体集成非线性电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理120

（七）半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理140

一集成电路测试仪器的种类157

第二章 集成电路计量测试仪器型谱系列157

二中小规模数字集成电路测试仪器160

三大规模／超大规模集成逻辑电路测试仪器171

四大规模／超大规模集成电路存储器测试仪器181

五大规模／超大规模集成电路通用测试仪器188

六高速、超高速集成电路测试仪器192

七模拟集成电路测试仪器195

八集成电路综合测试仪器204

九其他集成电路测试仪器207

第三章 集成电路计量测试仪器的检定关系及现有技术服务能力209

一集成电路测试仪器的准确度209

二集成电路测试系统和仪器的检定关系211

三集成电路计量测试的现有技术服务能力212

一TM-6型数字集成电路测试头检定方法（讨论稿）219

部门计量检定规程封面格式219

第四章半导体集成电路参数测试仪器检定规程219

二 HP5045A/5046A型数字集成电路测试仪检定方法（讨论稿）225

三BJ3122（QL11）型逻辑集成电路测试仪检定规程（草案）239

四BJ3123型双极型逻辑集成电路测试仪检定规程（草案）244

五GH3111、GH3111G型集成电路测试仪检定规程（草案）250

六GH3112型集成电路动态逻辑功能检测仪测试方法（草案）256

七GH3121型智能逻辑功能测试仪测试方法（草案）259

八NY3121型集成电路测试仪检定规程（草案）265

九SERIES-10型LSI测试系统检定方法（讨论稿）270

十Q2/62型数字集成电路测试系统检定方法（讨论稿）284

十一GR1732M型数字集成电路测试系统检定方法（讨论稿）307

十二GR1734型存储器测试系统检定方法（讨论稿）331

十三9200型LSI测试系统检定方法（讨论稿）350

十四KS-2型开关参数测试系统检定规程（草案）368

十五 LTX77型集成电路综合测试系统检定方法（讨论稿）373

十六J273B型线性集成电路测试系统检定方法（讨论稿）383

十七GR1731M型模拟集成电路测试系统检定方法（讨论稿）390

十八I-100/TM-7AE型线性集成电路测试仪检定方法（讨论稿）440

十九BJ3190型集成运算放大器测试仪检定规程（草案）451

二十NY3181型线性集成电路测试仪检定规程（草案）458

二十一GH3181型运算放大器测试仪检定规程（草案）463

二十二1600型测试系统检定方法（讨论稿）469

二十三5700C型在线逻辑故障检测仪检定方法（讨论稿）478

检定证书式样483

检定结果通知书式样484

测试结果通知书式样485

第五章国外集成电路测试仪简介486

附录 国内集成电路测试仪产品介绍497