《表1 替位掺Au与间隙掺Au后ZnO的系统总能及Au得失电子数》
通过表1数据可以看出,对于任一大小的ZnO超晶包,间隙掺Au后ZnO的系统总能总是低于替位掺Au后ZnO的系统总能,这说明Au原子以填隙的方式掺入ZnO比以替位的方式更稳定[1]。此外,从Au的得失电子数可以看出,替位掺杂中的Au总是得电子,因此得到N型半导体,而间隙掺杂中的Au总是失电子,其中2×2×1中的Au失电子数最多,因此得到P型半导体。
图表编号 | XD0099179900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.15 |
作者 | 朱婷 |
绘制单位 | 西南石油大学理学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |