《表1 RT duroid 6002不同测试方法测试结果》
选择一张型号为RT duroid 6002(厚度0.504 mm)的微波介质基板,然后在该基板的不同位置按照上述各类测试方法的要求分别制作测试样品,并在常温环境下对介电常数Dk和损耗因子Df进行测试,结果(见表1)。
图表编号 | XD0097865400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.10 |
作者 | 董彦辉、张永华 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所、无锡江南计算技术研究所军用印制板质量检测中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |