《表3 RTduroid 6002单点温控系统测试值》

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《高频基板材料介电常数温度系数测试研究》

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实验测试结果如表2至表5所示，采用2种控制系统对RTduroid 6002和CLTE-XT分别测试了5组样品，其中多点温控系统控温模式为：样品上层左中右3个位置及下层左中右3个位置温度均达到所需测试温度值。单点温控系统采用的控温模式为：当中心温度达到指定温度并保持平衡一定时间后测试条件[6]。由图中可以看出，单点温度控制系统测试结果与罗杰斯的标称典型值差距较为明显，且数据分散性较大，尤其是CLTE-XT温度系数典型值为-9 ppm/℃，而单点温控系统测试结果却在+10 ppm/℃左右，偏差较大，而采用多点控温系统的测试结果与罗杰斯典型值基本吻合，证明其测试条件较为理想，测试数据比较可信。