《表3 存储器读写错误统计表》

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《声波测井存储模块的快速检测系统和补偿方法》

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（2）在剩余的24个存储器中随机挑选5个，进行了完整的带电加温测试，统计的读写操作开始出错温度、带ECC处理和不带ECC处理两种方式下读取数据的错误数、错误类型以及错误位置如表3所示，其中CE0和CE1为每个存储器中两个片结构的片选标志。部分存储器在加温到150?C后，就开始出现页内单比特位翻转错误，且出错的块、页、列地址固定，未出现单页内多比特位翻转和多处错误的情况。由于ECC算法可以校正页内单比特位翻转的错误，所有存储器在175?C的高温读写实验中，带ECC处理的数据读取错误数均为0。因此，通过ECC算法进行温度补偿后，该款存储器可以在测井要求的175?C高温环境中工作。