《表1 涝渍胁迫对玉米叶片气孔因素、水分和光能利用效率的影响》

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《涝渍胁迫下玉米苗期不同叶龄叶片光合特性》

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注:CK为对照，F和W分别表示淹水和渍水处理。*表示显著性差异（P<0.05）。

为进一步分析净光合速率下降的原因及涝渍对叶片光能利用和水分利用效率的影响，分别计算不同涝渍天数时气孔限制值（Ls）、光能利用效率（LUE）和水分利用效率（WUE）。涝渍1 d和3 d时，叶片Ci上升而Ls值下降，说明净光合速率下降是非气孔因素引起；第5～7 d，Ci下降而Ls值显著上升（P<0.05），说明是气孔因素引起净光合速率下降。涝渍1～2 d，叶片的LUE和WUE无显著差异；淹水3 d，LUE显著增加而WUE显著降低（P<0.05）。渍水5～7 d，LUE显著降低（P<0.05），WUE无显著差异（表1）。