《表1 各组分分析条件：X荧光熔片法测定多种地质样品的工作曲线的建立》
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各组分分析条件见表1。
| 图表编号 | XD0086513500 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.10.01 |
| 作者 | 周春宝、于梦佳、黄秋萍、王洁雪、杨敏 |
| 绘制单位 | 四川西冶检测科技有限公司、成都师范学院化学与生命科学学院、成都师范学院化学与生命科学学院、成都师范学院化学与生命科学学院、成都师范学院化学与生命科学学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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