《表3 校准曲线参数：粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分》

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《粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分》

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在建立XRF分析方法时，校准曲线对应的均根方差（RMS）和品质因子（K）值越小，样品的标准值与分析拟合结果值一致性越好。对于质量分数>1%的杂质组分，RMS的值<1，K<0.5为宜；对于质量分数<1%的杂质组分，RMS的值<0.5，K控制为<0.1为宜[20]。对待测杂质组分经基体效应和谱线重叠干扰校正、回归计算后，各组分校准曲线参数见表3。从表3可知，各组分回归参数均较好，校准曲线线性回归良好。通过图3发现，以锰元素为例，参与回归的点几乎都在一条直线上，说明曲线的相关性良好。