《表3 相同NaOH用量下静置浸泡和搅拌后锂辉石表面XPS检测结果》

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《NaOH和机械搅拌对锂辉石表面及浮选行为的影响》

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为查明NaOH和机械搅拌作用对锂辉石矿物浮选行为影响的原因，对经不同条件作用下的锂辉石矿样进行了XPS检测，并通过Avantage软件对XPS源数据进行处理，利用元素灵敏度因子法，得到了锂辉石矿物表面相对原子的含量。XPS能谱分析结果分别见图10和表3。相同3 000 mg/L NaOH用量作用下，经3.93 m/s叶轮速度作用10min后，锂辉石矿物表面Li、Al和Si的相对原子含量发生了较明显的变化。与NaOH静置浸泡相比，锂辉石表面Si的相对含量下降，而Al和Li的相对含量增加。若以Si的相对含量为基准换算，采用机械搅拌后Al/Si从0.532 4增加到0.553 2，Li、Si从0.548 7增加到0.591 0，说明Al、Li相对于Si更多地暴露在锂辉石表面。可以推测，在NaOH环境中，机械搅拌作用可以促进锂辉石等矿物表面Si元素的溶蚀，从而使锂辉石表面暴露更多的Al和Li质点。