《表3 标签天线最大识别距离》
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《密集环境下无源超高频系统RFID标签识别性能研究》
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基于上述分析，考虑到仿真计算的理想化和实际测量过程中各种不可避免的干扰损耗，可以认定差值处于合理范围内，仿真结果与实测结果吻合较好。
| 图表编号 | XD0078692200 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.07.15 |
| 作者 | 燕怒、李达、韩冬桂、刘芳、肖梦帆、彭亚文 |
| 绘制单位 | 武汉纺织大学机械工程与自动化学院、武汉纺织大学机械工程与自动化学院、武汉纺织大学机械工程与自动化学院、武汉纺织大学机械工程与自动化学院、武汉纺织大学机械工程与自动化学院、武汉纺织大学机械工程与自动化学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
