《表1 因素水平表：PCB集成化RFID标签天线的优化设计》
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因此，分别对每个结构参数取2个水平，以研究各个结构参数对于端口回波损耗作用的显著性，影响结构的三种因子及其水平见表1:
| 图表编号 | XD00178732200 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2020.06.05 |
| 作者 | 张慧磊、贺则昊 |
| 绘制单位 | 中国计量大学质量与安全工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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