《表5 方差分析表：PCB集成化RFID标签天线的优化设计》

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《PCB集成化RFID标签天线的优化设计》

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对各个因素进行方差分析，见表5。其中，（*）、*、**分别代表在显著性水平α=0.10，0.05，0.01下的检验结果，即该因素对端口回波损耗有影响。一般在α=0.10下仍无显著结果时表示：该因素对端口回波损耗无影响，其临界值分别为：