《表1 灵敏度检测：可视化膜芯片检测转基因大豆的研究》

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《可视化膜芯片检测转基因大豆的研究》

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注:“+”为检出转基因成分，“-”为未检出转基因成分。

将转基因大豆GTS 40-3-2和非转基因大豆克山1号分别用液氮冷冻研磨仪制粉，以克山1号大豆粉为本底，将GTS 40-3-2大豆粉混入样品并逐级稀释，设计浓度比例分别为10%、1%、0.1%及0.01%（w:w），每个浓度制备3个平行样，按2.3.1、2.3.2和2.3.3方法提取DNA、基因扩增和膜芯片杂交，结果见表1。该检测方法对于0.1%含量以上的非转基因大豆掺入具有检出能力，0.01%浓度不具备检出能力。