《表3 淬火态试样在不同亚温温度下的奥氏体晶粒尺寸和晶粒度级别》

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《SXQ500/550D钢奥氏体晶粒长大行为及其影响因素》

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注:D—晶粒平均尺寸；S—截点计数标准差；G—平均晶粒度级别；G±95%CI—平均晶粒度的95%置信区间；RA—测量结果的相对误差

亚温淬火（Subcritical/Intercritical quenching）工艺即淬火+两相（a+γ）区淬火+回火，也称两相区热处理，其突出特点就是二次淬火加热的温度处于两相区。本试验中将920℃淬火态试样加热至不同亚温温度，并统计所得奥氏体晶粒尺寸D，晶粒度级别G及其95%置信区间，结果如表3所示。由表3可知，在粗化温度之前，随着亚温温度的升高淬火态试样晶粒尺寸不断增大。