《表2 轧态试样不同加热温度下的奥氏体晶粒尺寸与晶粒度级别》

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《SXQ500/550D钢奥氏体晶粒长大行为及其影响因素》

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注:D—晶粒平均尺寸；S—截点计数标准差；G—平均晶粒度级别；G±95%CI—平均晶粒度的95%置信区间；RA—测量结果的相对误差。

轧态试样在不同加热温度下的晶粒尺寸D，晶粒度级别G及其95%置信区间统计结果见表2，试样在不同加热温度下的奥氏体晶粒显微组织形貌如图2所示，奥氏体晶粒长大曲线如图3所示。在表2中770～850℃之间为α+γ两相区，据国标GB/T 6394—2002中对多相合金晶粒度测定方法的规定，可忽略α相只计γ相的有效晶粒度。具体分析表2中数据可得，随着加热温度的升高，奥氏体晶粒不断长大，当加热温度从两相区770℃升高到完全奥氏体区1070℃时，晶粒尺寸由15.15μm增加到101.82μm，晶粒度级别也从8.8降到3.2。