《表5 矩阵玻片B均匀性测量结果 (m=11, n=3)》

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《荧光薄膜材料荧光特性对荧光显微镜分析测量效果的影响》

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用2.2节中的方法制备出固体矩阵玻片B。按照2.5节中的方法运用荧光显微镜法测量各个荧光点阵的荧光强度，采样点个数m，每个采样点重复测量n次，并且采用方差分析和F检验对荧光点阵的分布均匀性进行验证[21，22]，结果如表5。均匀的固体玻片，在均匀的光照下，形成的荧光图像也是均匀的。我们可以将该均匀的玻片放置在荧光显微镜下采集图片，如果玻片在显微镜下采集的图片光强度有偏差，我们可以根据偏差进行光补偿，达到校准荧光显微镜光场均匀性的目的。