《表1 不同温度热处理后BSI-CMOS图像传感器信噪比》
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《热处理对背照式CMOS传感器信噪比影响的实验研究》
BSI-CMOS图像传感器中的噪声分为随机噪声和模式噪声[5],随机噪声是指电压或者电流的统计分布,是与时间有关的噪声,模式噪声是空间分布的噪声,对所有帧的影响都是相同的。模式噪声又分为固定模式噪声和光响应非均匀性[6],光响应非均匀性数量级较低,对图像质量影响较小,因此信噪比的计算过程中忽略光响应非均匀性对噪声的影响。在?1的计算中,(Sij-S) 是p帧图像在(i,j)点处的灰度平均值减去总的灰度平均值,体现的是BSI-CMOS图像传感器空间域的噪声特性,即固定模式噪声。在?1的计算中,?ij是p帧图像上(i,j)点处灰度值的标准偏差,体现的是BSI-CMOS图像传感器时间域的噪声特性,信噪比SNR则体现了BSI-CMOS图像传感器的空间域噪声特性和时间域噪声特性[7]。按照以上方法对未经热处理和不同温度热处理后的BSI-CMOS图像传感器的信噪比进行测试,参加测试的BSI-CMOS图像传感器的信噪比如表1所示。
图表编号 | XD0065888100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.20 |
作者 | 王生凯、靳川、乔凯、焦岗成、程宏昌、刘晖、苗壮 |
绘制单位 | 微光夜视技术重点实验室、昆明物理研究所、微光夜视技术重点实验室、昆明物理研究所、微光夜视技术重点实验室、昆明物理研究所、微光夜视技术重点实验室、昆明物理研究所、微光夜视技术重点实验室、昆明物理研究所、微光夜视技术重点实验室、昆明物理研究所、微光夜视技术重点实验室、昆明物理研究所 |
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