《表1 1 080 nm高反膜元件激光辐照结果》
样品抗激光损伤性能测试结果如表1所示。用于对比试验的Ag膜样品在10 kW/cm2的能量密度下瞬间损伤,K9玻璃基底炸裂。随机选取的1 080 nm高反膜元件在依次经历100kW/cm2~500 kW/cm2的激光辐照之后,经过100倍金相显微镜暗场下观察,未发现损伤,这表明本文研制的低损耗1 080 nm高反膜元件具有较好的工程化应用前景。
图表编号 | XD0062114700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.10 |
作者 | 李钱陶、熊长新、李定 |
绘制单位 | 华中光电技术研究所-武汉光电国家研究中心、华中光电技术研究所-武汉光电国家研究中心、华中光电技术研究所-武汉光电国家研究中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |