《表2 March-FT故障覆盖率》
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《BIST电路在嵌入式非易失性存储器可靠性测试中的应用》
对于故障检测，我们提出了March-FT算法来解决这个问题。在文献[6]中指出，常见故障的覆盖范围和March-FT测试算法的非易失性存储器的独特故障如表2所示[6]。
| 图表编号 | XD0061656400 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.06.05 |
| 作者 | 安宝森、乔树山、刘琦 |
| 绘制单位 | 中国科学院大学微电子学院、中国科学院大学微电子学院中国科学院微电子研究所、中芯国际集成电路制造有限公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
