《表1 器件VTH与发光效率η的映射关系》

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《一种针对AMOLED器件劣化的电学补偿技术》

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对于任一型号产品，在产品开发初期进行OLED被动器件的劣化数据的搜集，得到大量样本的不同劣化程度的I-V-L（电流-电压-亮度）。用I-V数据得到器件VTH，用I-L数据得到器件发光效率η。同一时刻器件的VTH与发光效率η形成映射关系，如表1所示。