《表2 测试记录表：利用半导体致冷器扩展光通信系统温度范围》

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《利用半导体致冷器扩展光通信系统温度范围》

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产品生产制造完成后，进行环境适应性试验检测半导体致冷器的实际使用效果。将光发射机与光接收机置于温度试验箱内，在多个温度条件下，用光功率计测试光发射机输出光功率，用网络分析仪测试射频链路增益（测试信号频率1GHz），用万用表连接温度探头测量激光器外壳温度及探测器外壳温度，测试结果如表2所示。