《表2 静态电流测试向量说明》

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《基于电流测试的SoC量产测试方法研究》

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静态电流测试项目测试的是芯片在停止工作或者某些功能模块不工作的情况下测试的电流，通过配置模块为Standby模式来关闭响应模块功能。静态电流在测试过程中除了测试芯片不工作状态下的电流，也能够测试出生成工艺不符合要求的芯片。例如，tm＿ext＿current＿wakeup＿STANDBY＿32KSRAM＿sircon＿jtag向量，其进入Standby模式后，电流达到40 A左右，在同批次芯片中，corner芯片或者沾污芯片的静态电流明显大于正常静态电流，静态电流达到100～500 A（虽然这些静态向量的功能运行正常，但通过测试其静态电流，也能够将不合格的corner芯片、沾污芯片和栅压关断不稳定的芯片剔除），因此在静态电流不仅仅测试芯片待机或关断下的电流，而且能够测试到corner、沾污等故障芯片，如图4所示。