《表3 损耗来源：基于GaN HEMT的半桥LLC优化设计和损耗分析》
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《基于GaN HEMT的半桥LLC优化设计和损耗分析》
最后，损耗的来源见表3，对应的损耗数据见表4。
| 图表编号 | XD0057222800 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.05.01 |
| 作者 | 姚盛秾、韩金刚、李霞光、范辉、汤天浩 |
| 绘制单位 | 上海海事大学物流工程学院、上海海事大学物流工程学院、上海海事大学物流工程学院、上海电机学院电气学院、上海海事大学物流工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
