《表1 测量结果：基于LLC感应加热电源IGBT并联电容降低开关损耗探讨》

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《基于LLC感应加热电源IGBT并联电容降低开关损耗探讨》

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在同样的工况和散热条件下，运行无并联电容和有并联电容电路相同的时间，分别测量IGBT模块内置热敏电阻阻值并得到相对应的温度，计算其温升，作为衡量损耗的标准，其结果见表1。由此可知，在相同工况和散热条件下，并联0.1μF电容后IGBT模块内置热敏电阻温升下降了25%，因为热敏电阻的温升与IGBT模块损耗近似成正比关系，所以在此条件下IGBT损耗降低25%左右。而IGBT损耗包括导通和关断损耗，导通损耗基本不变，所以关断损耗下降远大于25%。