《表3 带表面处理试验件材料在100μm薄液膜状态下的自腐蚀电位 (vs SCE)》
薄液膜厚度是电偶腐蚀仿真的重要参数,电解液膜层厚度是由电解液沉积和蒸发的速率决定的。在周期浸润试验中烘干过程的液膜厚度是逐渐降低的,但受限于仿真极化曲线的测量过程,本工作采用恒定的薄液膜厚度来模拟薄液膜的烘干过程的薄液膜状态。根据陈跃良等[19]关于不同液膜厚度下电偶腐蚀的电流、电位的相关研究,100μm液膜厚度附近是溶液状态与薄液膜状态电偶电流值的剧烈变化的分界点,液膜厚度低于100μm进入大气腐蚀后金属的腐蚀速率大幅增加,故选取100μm作为电化学测量的参考膜厚,温度为(43±2)℃,相对湿度为95%。测得的极化曲线如图5所示。拟合极化曲线得到各种材料的平衡电位,如表3所示。
图表编号 | XD0053351500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.15 |
作者 | 何祯、张小明、孟嘉琳、唐蒙 |
绘制单位 | 航空工业第一飞机设计研究院、航空工业第一飞机设计研究院、航空工业第一飞机设计研究院、航空工业第一飞机设计研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |