《表1 测试值与理论值比较》
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《基于HV-CMOS工艺集成PIN光敏元的CMOS传感器设计》
PIN光电二极管的电荷转换增益及暗电流的测试值与理论值对比如表1所示,其中电荷增益的理论值使用公式q/Cpd来计算。测试的电荷转换增益明显低于理论值,原因有两方面:一是读出电路的寄生效应造成的电路增益明显低于仿真值;二是像素复位管及跟随管的寄生电容使像素的结电容明显增大。
图表编号 | XD0051412900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.01 |
作者 | 杨成财、鞠国豪、陈永平 |
绘制单位 | 中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院大学、上海科技大学信息科学与技术学院、中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室 |
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