《表2 方法精密度:阴离子树脂预处理-离子色谱法测定核纯氢氧化锂中阴离子杂质》
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《阴离子树脂预处理-离子色谱法测定核纯氢氧化锂中阴离子杂质》
由表2中方法的精密度实验可见,当样品中氟、氯和硫酸根质量分数分别为8μg/g、20μg/g和50μg/g时,各组分的多次测定相对标准偏差均在10%附近。本文以氢氧化锂中各组分质量分数为上述值时多次测定结果标准偏差的5倍作为本方法的最低检出限。表3分别列出了氟离子、氯离子和硫酸根的最低检出限。
图表编号 | XD0045539100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.10 |
作者 | 李伯平、王志龙、徐静、崔建勇、郭冬发 |
绘制单位 | 核工业北京地质研究院、核工业北京地质研究院、核工业北京地质研究院、核工业北京地质研究院、核工业北京地质研究院 |
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