《表6 Si扩展含量段的精密度试验结果》

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《火花放电原子发射光谱仪分析高含量硅时校准曲线的扩展与应用》

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选择Si扩展含量段的两样品（EIRM 191-2为中低合金钢样品，GBW01389为硅钢样品），按照仪器确定的工作条件及分析方法在同一分析面上激发10次[8-9]，测定结果见表6。从表6可以看出，w（Si）≥3.0%时，Si测定结果的相对标准偏差（RSD）均小于1.0%，说明分析结果间的一致性较好，精密度较高。