《表1 1#小结石缺陷及其周围玻璃的化学分析结果》
(质量分数) /%
缺陷在磨光切片上用高真空沉淀设备镀上薄碳膜,并且随后放入扫描电子显微镜的腔室内。获得缺陷及周围玻璃的EDX能谱分析结果并计算为百分比。表1呈现了由X射线EDX微探针获得的缺陷及其周围玻璃的化学成分的质量百分比的结果。表1中显示的结果都是无标样的半定量分析结果,所显示的数据不需要完全与玻璃的传统的化学分析以及XRF仪器分析结果一致,因为微区分析方法反映的正是样品中各个区域成份的不均匀性特征,而常规分析或XRF分析方法获得的结果,都是大面积样品分析的平均值。
图表编号 | XD004028800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.25 |
作者 | 魏俊峰、李茜 |
绘制单位 | 中国建材国际工程集团有限公司、燕山大学材料科学与工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |