《表2 多余物检测方法汇总表格》
航天产品生产过程复杂,多余物形成机理、存在环境以及大小材质等不同,有不同的检测方法,如表2。多余物检测的首要问题是定义,在航天产品中,多余物定义为设计文件、工艺文件和标准文件规定之外的一切遗留物品,其中较大质量多余物检测和清除较为容易,小质量多余物是检测难点。X射线照相法采用X射线照射电子产品以检测内部多余物,仅针对密封器件内可对X光成像的多余物,航天产品结构复杂,某些可穿透多余物无法被检测出来,且X光片图像处理难度大,该方法应用较少。文献[8]提出了一种改进型MARTRA方法,准确度达到10%,可作为PIND的补充,但仅针对密封电子器件内游离的多余物,因测试条件单一,试验周期长,灵敏度低而为在多余物检测中得到重视;目前美国宇航局提出的颗粒碰撞噪声检测(particle impact noise detection,PIND)[9-10]法因其成本低廉、工艺成熟、操作简便、检测率高而被广泛应用并不断改进。
图表编号 | XD0036338900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.25 |
作者 | 张悦、孙胜利、刘会凯、雷林建、向玉开 |
绘制单位 | 中国科学院上海技术物理研究所、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所、上海科学技术大学、中国科学院上海技术物理研究所、上海科学技术大学 |
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