《表2 本研究与文献[9-10]的测试条件和测试方法对比》
表2为本研究与文献[9-10]的测试条件、测试方法等实验信息的对比,很明显,文献[9-10]样品纯度和测试方法都与本研究有较大差距,本研究采用了扫描电镜(SEM)和电子探针(EPMA)等文献[9-10]时代所不具备的测试方法,能更精确分析微观组织形貌和精确测定样品成分,因而根据以上分析结果并结合文献[9-11]报道的数据,对Ce-Ge二元体系相图在40%~60%Ge(原子分数)进行了合理实验修正,如图1(b)所示。
图表编号 | XD0035419100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.04.01 |
作者 | 周小文、贾立颖、王倩、黄可淼、胡国辉、熊君、刘荣明、李炳山 |
绘制单位 | 国家磁性材料工程技术研究中心、北矿磁材(阜阳)有限公司、国家磁性材料工程技术研究中心、国家磁性材料工程技术研究中心、北矿磁材(阜阳)有限公司、国家磁性材料工程技术研究中心、国家磁性材料工程技术研究中心、国家磁性材料工程技术研究中心、国家磁性材料工程技术研究中心、北矿磁材(阜阳)有限公司、国家磁性材料工程技术研究中心、北矿磁材(阜阳)有限公司 |
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