《表3 25℃下早期失效膜片组件贮存寿命评估结果a》
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根据范德霍夫规则外推早期失效的膜片组件在25℃下的平均寿命和可靠贮存寿命，结果见表3。
| 图表编号 | XD0034269500 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.04.25 |
| 作者 | 李沛剑、王志峰、郭军刚 |
| 绘制单位 | 海军驻航天一院军事代表室、北京精密机电控制设备研究所、北京精密机电控制设备研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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