《表5 25℃下膜片组件的贮存寿命评估结果a》
利用100℃下的截尾数据,采用极大似然方法,计算得到膜片组件在100℃下的平均贮存寿命和可靠贮存寿命如表4所示,此段截尾数据无失效出现,故采用1参数Weibull分布分析计算[7,8],Weibull分布的形状参数取为8。根据范德霍夫规则外推膜片组件在25℃下的平均寿命和可靠贮存寿命,结果如表5所示。
图表编号 | XD0034269200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.04.25 |
作者 | 李沛剑、王志峰、郭军刚 |
绘制单位 | 海军驻航天一院军事代表室、北京精密机电控制设备研究所、北京精密机电控制设备研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |