《表2 100℃下早期失效膜片组件贮存寿命评估结果h》

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《伺服涡轮泵入口密封膜片加速贮存试验研究》

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将100℃下膜片组件的区间失效数据线性插值[6]，得到失效产品的具体失效时间，根据寿命分布拟合优度检验结果，采用对数正态分布和极大似然方法，计算早期失效的膜片组件在100℃下的平均寿命和可靠贮存寿命，结果见表2，可靠性函数曲线如图4。