《表2 双分子复合物的键临界点的拓扑性质Tab.2 Topological Properties of the Bond Critical Points for the Bimolecular Com

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《分子间S…O和S…S键的量子化学研究》

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硫键双分子复合物的相互作用能Eint和SX2分子中硫原子的σ-hole的局部极大值VS，max存在极好的线性关系，线性相关系数分别是1.000 0和0.947 6.如图3所示.这表明随着SX2分子中S原子的VS，max值的减小，复合物的相互作用能减小，硫键作用减弱，即硫键双分子复合物的相互作用能主要由σ-hole的局部极大值VS，max决定.S…O和S…S键临界点的电子密度拓扑性质列于表2.一般来讲，键临界点的电子密度越大，化学键就越强，形成的复合物就越稳定.SX2…H2CO复合物中的S…O键，键临界点的电子密度ρb为0.012 3～0.023 5a.u.，随着取代基X电负性（F>Cl>Br>I）的降低而减小.同样的情形也发生在SX2…H2CS复合物中，即SF2与H2CO，H2CS作用形成的硫键最强.此外，SF2…H2CO复合物中的S…O键临界点的电子密度ρb（0.023 5）大于SF2…H2CS复合物中的S…S键的ρb（0.020 9）.而SCl2（SBr2，SI2）…H2CO复合物中的S…O键临界点的ρb均小于SCl2（SBr2，SI2）…H2CS复合物中的S…S键的ρb.这表明SF2与H2CO的作用强于其与H2CS的作用，SCl2，SBr2，SI2与H2CO的作用弱于其与H2CS的作用.