《Tab.1 Resources used by test circuits》

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《对FPGA配置码点软错误敏感性的细粒度研究（英文）》

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The test circuits for the experiment include three combinatorial and five sequential circuits picked out from the MCNC[20]and OpenCores[21]suites.In Tab.1（see page 78），we summarize the number of primary inputs（PI），primary outputs（PO），flip-flops（FF）and LUTs in each circuit.