《表2 镀层钝化前后表面存在的元素及质量分数》
%
图5为钝化膜的XPS全谱图。图中出现C元素主线峰,可能是由于样品污染所致。因此,组成钝化膜的主要元素为Ni、O、P。对钝化试样表面的Ni、O、P元素进行精细XPS分析,并对图谱进行分峰拟合处理后,得到图6。由图6a可知,Ni元素峰位于853.8 eV和855.4eV处,对应的物质分别为Ni O和Ni(OH)2,表明Ni元素主要存在形式为Ni O和Ni(OH)2。O元素的峰位于529.4 eV和531.9 eV处,其化学状态对应物质分别为Ni O和O-H,这与镍元素的物质构成相吻合。P元素的峰位于130.6 eV处,表明膜层中还有少量未参与成膜反应的P原子。因此,钝化膜主要由Ni O和Ni(OH)2组成。
图表编号 | XD0029100600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.03.15 |
作者 | 赵涛、乔素芳、卞云霞、杨艳芹、邓日智、毛祖国、张德忠 |
绘制单位 | 武汉材料保护研究所、湖北三江航天红林探控有限公司、湖北三江航天红林探控有限公司、湖北三江航天红林探控有限公司、武汉材料保护研究所、武汉材料保护研究所、武汉材料保护研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |