《表1 某电路批次内一致性控制结果》

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《航天器用集成电路参数一致性分析技术研究》

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判断参数测试值是否满足正态分布时，可采用统计学中的专有方法来进行校验。对样本数量小于2000的数据，可采用Shapiro-Wilk检验（W检验），对样本数量大于2000的数据，可采用Kolmogorov-Smirnov检验（D检验）。2种校验方法均会计算出P值（probability value），即概率值，当P>0.05时，认为数据服从正态分布；当P<0.05时，认为有统计学差异；当P<0.01时，认为有显著统计学差异；当P<0.001时，认为有极其显著统计学差异。各生产厂应对自产电路的测试结果进行深入分析，确认检验方法[2]。