《表1 质量影响比较:航天器用电子元器件生产过程的质量控制探讨》
(3)工序质量水平评估。主要是考核生产工序的平均质量水平,对产品的合格率进行监控,保证产品生产过程的合格率满足最终质量要求。不同的质量水平要求会导致产生不同的生产过程质量控制结果,σ在统计学上用以描述总体中个体偏离均值的程度,测量出的σ可用来表征单位缺陷或错误的概率性,σ值越大,说明缺陷或错误概率就越小。3σ质量水平表示产品的合格率为99.74%,6σ质量水平表示产品的合格率为99.99966%,对应于3.4×10-6缺陷率,也即生产的100万只产品中只有3.4件是不合格的。表1对比了3σ和6σ两种不同质量水平下的质量管理结果和影响[5],其仅显示了单个步骤在某个时段发生的不合格频数,但实际上电子元器件生产过程是由一系列生产工序组成的,整个过程的总合格率是每一生产工序的合格率乘积。如果生产过程由10个生产步骤组成,每个步骤都达到3σ质量水平,那么过程结束后的最终质量水平却是惊人的,意味着在100万个产品中将有26674个不合格品。
图表编号 | XD00228604700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | |
作者 | 左凤娟、王腾、文小红 |
绘制单位 | 中国电子科技集团第四十三研究所、中国电子科技集团第四十三研究所、中国电子科技集团第四十三研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |