《表2 不同方法瑕疵检测时间对比》
为测试本文方法瑕疵检测效率,统计采用3种方法检测10种超精密光学元件的检测时间,并将本文方法检测结果与激光投射法和全息法对比,对比结果如表2所示。
图表编号 | XD00222377500 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.09.25 |
作者 | 刘尘尘、吴成茂 |
绘制单位 | 西昌学院、西昌学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
为测试本文方法瑕疵检测效率,统计采用3种方法检测10种超精密光学元件的检测时间,并将本文方法检测结果与激光投射法和全息法对比,对比结果如表2所示。
图表编号 | XD00222377500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.09.25 |
作者 | 刘尘尘、吴成茂 |
绘制单位 | 西昌学院、西昌学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |