《表3 不同方法消耗功率对比》
为验证本文方法检测超精密光学元件瑕疵的稳定性,统计采用本文方法检测不同数量超精密光学元件瑕疵时,所消耗功率,并将本文方法与激光投射法与全息法对比,对比结果如表3所示。
图表编号 | XD00222377300 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.09.25 |
作者 | 刘尘尘、吴成茂 |
绘制单位 | 西昌学院、西昌学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
为验证本文方法检测超精密光学元件瑕疵的稳定性,统计采用本文方法检测不同数量超精密光学元件瑕疵时,所消耗功率,并将本文方法与激光投射法与全息法对比,对比结果如表3所示。
图表编号 | XD00222377300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.09.25 |
作者 | 刘尘尘、吴成茂 |
绘制单位 | 西昌学院、西昌学院 |
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