《表1 K+,Na+,Li+迁移时间和峰高的相对标准偏差测定》

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《一种基于电压控制与场放大样品堆积实现离子在线双富集的电泳微芯片研究》

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在最佳实验条件下，通过连续重复滴加待测样品溶液（K+，Na+，Li+，20μmol/L）并进行富集与分离检测，对微芯片进行了5次重复性测试。表1展示了微芯片连续进行5次实验所得平均迁移时间与平均峰高等相关参数。3种样品离子迁移时间的相对标准偏差（RSD，n=5）在5.3%～6.2%范围内，峰高的RSD保持在5%以下，证明该芯片重复性较好。