《表1 测定同位素和分辨率》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《辉光放电质谱法测定高纯金靶材中42种杂质元素》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

Element GD中分辨率模式下分辨率可达3 000～4 000，高分辨率模式下分辨率可达9 000～10 000。通常同位素质量数丰度越大灵敏度越高，以丰度高和无干扰或干扰小的原则来选择被测同位素，同时也要考虑基体元素可能会形成同质异位和复合离子干扰及对待测元素的影响，通过选择分辨率来克服可能存在的质谱干扰。分别选择40 Ar16 O+与56 Fe和39 K与1 H38 Ar+作为示例来表明不同分辨率下的干扰离子的干扰情况。由图3a可知，在选择低分辨（300）模式下，56 Fe与干扰离子40 Ar16 O+（图中高强度峰）基本重叠，无法分开，但在图3b中分辨（4 000）模式下，两种离子可以完全分离；由图4a可知，在选择中分辨模式（4 000）下，39 K与1 H38 Ar+（图中高强度峰）部分重叠，无法分开，但在图4b中高分辨（10 000）模式下，两种离子可以完全分离。由金基体、等离子体气体（氩气）、大气杂质（氢、碳、氮、氧）和来自离子源部件背景的原子或分子组合成的多原子离子可能会显著干扰所选定待测元素同位素在痕量级别下的测定，需要选择不同的分辨率来减少或克服干扰。测定同位素、分辨率及部分潜在干扰见表1。