《表1 硅元素各个同位素的同量异位素干扰离子及所需质量分辨率》

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《摩尔质量测量的中国贡献》

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采用电感耦合等离子体质谱开展同位素组成分析时，首先面临的难题是来自同量异位素离子的干扰，而硅作为轻质量数元素，尤其容易受到来自C、N、O等形成的双原子和多原子离子的干扰（见表1）。因此，如何消除质谱测量中的这些同量异位素离子的干扰是实现浓缩硅摩尔质量准确测量的重要前提。为此，我们先后尝试利用碰撞池技术和高分辨技术开展了相关测量方法研究。