《表1 不同胁迫浓度下玉米叶片中Cu和Pb含量（n=3)》

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《基于SD-SVD-Burg的玉米叶片铜铅污染甄别与程度诊断》

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收集采集光谱数据后的玉米叶片，对其进行冲洗（去除灰尘杂质）、干燥（烘干水分），用高纯硝酸、高氯酸消化（排除其他离子的干扰并使Cu、Pb以离子的形式存在）等预处理，Cu和Pb含量的测定依据《硅酸岩石化学分析方法》（GB/T 14506.30—2010）。叶片中Cu含量的测定采用电感耦合等离子体发射光谱仪进行定量分析，叶片中Pb含量的测定采用WFX-120原子吸收分光光度计[14]。对不同浓度Cu、Pb处理下玉米叶片中的老（O）、中（M）、新（N)3种叶片分别测量3次后取平均值作为该浓度下叶片中Cu、Pb的含量。实验所测得的玉米叶片中Cu和Pb的含量如表1所示。